產(chǎn)品名稱：TT260A涂層測厚儀
產(chǎn)品型號：時代之峰
更新時間：2024-11-28
產(chǎn)品特點：TT260A涂層測厚儀-時代之峰是一種經(jīng)濟實用型便攜式測量儀， TT260A涂鍍層測厚儀它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。TT260A 涂層測厚儀既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。
時代之峰TT260A涂層測厚儀的詳細資料：
TT260A涂層測厚儀-時代之峰（兩用型）
TT260A涂層測厚儀是一種經(jīng)濟實用型便攜式測量儀， TT260A涂鍍層測厚儀它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。TT260A 涂層測厚儀既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。是材料保護專業(yè)*的儀器。
的詳細介紹
使用了全金屬外殼結(jié)構(gòu)，更加堅固耐用，測值精準穩(wěn)定，價格經(jīng)濟實惠！
TT260A與TT260比:標準配置增加了通訊軟件和電纜可以用電腦上的打印機整理打印報告，去掉了隨機打印機，價格低廉！
符合以下標準：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
特點：
采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
可使用10種測頭（F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10）；
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（A-B）；
設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；
具有存貯功能：可存貯495個測量值；
具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量；
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；
具有電源欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
原理
TT260A 涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（ 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 ）上非磁性覆蓋層的厚度（如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆蓋層的厚度（如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
a） 磁性法（F型測頭）
當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
b） 渦流法（N型測頭）
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
技術(shù)參數(shù)表
測頭型號 | F400 | F1 | F1/90° | F5 | F10 | ||||
工作原理 | 磁 感 應 | ||||||||
測量范圍（um） | 0～400 | 0～1250 | 0～5000 | 0～10000 | |||||
低限分辨力（um） | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | |||||
示值 誤差 | 一點校準（um） | ±（3%H+1） | ±（3%H+5） | ±（3%H+10） | |||||
二點校準（um） | ±（（1～3）%H+0.7） | ±（（1～3）%H+1） | ±（（1～3）%H+5） | ±（（1～3）%H+10） | |||||
測 試 條 件 | zui小曲率半徑（mm） | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 5 | 10 | ||
zui小面積的直徑（mm） | F3 | F7 | F7 | F20 | F40 | ||||
基體臨界厚度（mm） | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 1 | 2 | ||||
測頭型號 | N400 | N1 | N1/90° | CN02 | N10 | |||||
工作原理 | 渦 流 | |||||||||
| 0～400 | 0～1250
| 10～200 | 0～10000 | ||||||
低限分辨力（um） | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | ||||||
示 值 誤差 | 一點校準（um） | ±（3%H+0.7） | ±（3%H+1.5） | ±（3%H+1） | ±（3%H+25） | |||||
二點校準（um） | ±[（1～3%H+0.7） | ±[（1～3）%H+1.5] | ___ | ±（（1～3）%H+25） | ||||||
測 試 條 件 | zui小曲率半徑（mm） | 凸 | 1.5 | 3 | 平直 | 僅為平直 | 25 | |||
zui小面積的直徑（mm） | F4 | F5 | F5 | F7 | F50 | |||||
基體臨界厚度（mm） | 0.3 | 0.3 | 0.3 | 無限制 | 5mm鋁箔 | |||||
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